Search In this Thesis
   Search In this Thesis  
العنوان
Fault Models and test procedures for flash memory disturbances/
المؤلف
Noshy, Rania Ezzat
هيئة الاعداد
باحث / رانيا عزت نصحي
مشرف / هالة منصور عبد القادر
مشرف / عربي السيد كشك
مناقش / هالة منصور عبد القادر
مناقش / عربي السيد كشك
الموضوع
flash memory. flash memory - disturbances.
تاريخ النشر
2010 .
عدد الصفحات
123p. ;
اللغة
الإنجليزية
الدرجة
ماجستير
التخصص
الهندسة الكهربائية والالكترونية
تاريخ الإجازة
1/1/2010
مكان الإجازة
جامعة بنها - كلية الهندسة بشبرا - الهندسة الكهربية
الفهرس
Only 14 pages are availabe for public view

from 125

from 125

Abstract

ذاكرة الفلاش هي نوع من الذاكرة غير المتقلبةمما جعلها تكتسب زيادة مضطرة للعديد من التطبيقات في وقتنا الحاضر، ويمكن وصف بعض العيوب في ذاكرة الفلاش باستخدام نماذج خطأ تقليدية وبالرغم من ذلك فان ذاكرة الفلاش والذاكرات الاخري التي من نفس النوع الغير متقلبة يمكن ان تحتوي علي اخطاء لا يمكن وصفها بهذة النماذج وتعد اخطاء الازعاج فئة من هذة الاخطاء الناجمة عن عيوب في الطبقة العازلة من ترانزستور الذاكرة.